扭曲应力检测
方法：设置扭曲次数为1000次，每250次后进行功能测试。
结果：需符合GB/T 16649.1-2006中4.2.11的规定。
抗紫外线检测
方法：样卡正面和背面分别接受总能量为15Ws/cm²的光照。
结果：需符合GB/T 17554.1-2006中5.12的规定。
特定温湿度下的卡片稳定性检测
方法：在不同温度和湿度下进行试验，每种环境试验结束后进行功能测试。
结果：需满足ISO/IEC 7810:2003中第5章和8.11的规定。
剥离强度检测
方法：将样卡切成多块，测试剥离强度。
结果：需符合ISO/IEC 7810:2003中8.8的规定。
触点的表面轮廓检测
方法：使用测量设备对触点进行测量。
结果：需符合GB/T 16649.1-2006中4.2.3的规定。
机械强度检测
方法：进行50次的机械强度试验。
结果：需符合GB/T 16649.1-2006中4.2.4的规定。
触点电阻检测
方法：测量样卡触点电阻。
结果：需符合GB/T 16649.1-2006中4.2.5的规定。
电磁干扰检测
方法：进行电磁干扰测试。
结果：需符合GB/T 16649.1-2006中4.2.6的规定。
电磁场检测
方法：将样卡置于静磁场中进行测试。
结果：需符合GB/T 16649.1-2006中4.2.7的规定。
抗静电检测
方法：进行正负极性放电测试。
结果：需符合GB/T 16649.1-2006中4.2.8和GB/T 17554.3-2006中5.2的规定。
抗化学性检测
方法：将样卡浸泡于标准溶液中。
结果：需符合GB/T 17554.1-2006中5.4和GB/T 14916-2006中8.4的规定。
尺寸、触点位置和编号检测
方法：测量样卡尺寸、触点位置和编号。
结果：需符合GB/T 16649.2-2006中第4章和第5章的规定。
触点尺寸检测
方法：测量样卡触点尺寸。
结果：需符合GB/T 16649.2-2006中第3章的规定。
电气特性检测
方法：进行电气特性测试。
结果：需符合GB/T 16649.3-2006中第4章的规定。
复位应答检测
方法：进行复位应答测试。
结果：需符合GB/T 16649.3-2006中第6章和第7章的规定。
操作过程检测
方法：进行操作过程测试。
结果：需符合GB/T 16649.3-2006中第5章的规定。
异步半双工字符传输协议检测
方法：进行异步半双工字符传输协议测试。
结果：需符合GB/T 16649.3-2006中第8章的规定。
行业间命令检测
方法：进行行业间命令测试。
结果：需符合GB/T 16649.3-2006中第8章的规定。
标准制定信息
- 发布单位: 中华人民共和国住房和城乡建设部
- 归口单位: 住房和城乡建设部信息技术应用标准化技术委员会
- 起草单位: 住房和城乡建设部IC卡应用服务中心、中外建设信息有限责任公司、捷德(中国)信息科技有限公司、深圳市华旭科技开发有限公司、上海华虹计通智能系统股份有限公司、北京江南歌盟科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、北京尊冠科技有限公司、信息产业信息安全测评中心、东信和平科技股份有限公司、上海华虹集成电路有限责任公司、恩智浦(中国)管理有限公司、英飞凌集成电路(北京)有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、武汉天喻信息产业股份有限公司、中钞信用卡产业发展有限公司、北京亿速码数据处理有限责任公司、上海雅斯拓智能卡技术有限公司、上海柯斯软件股份有限公司、中山达华智能科技股份有限公司、深圳市德卡科技有限公司、珠海亿达科技电子工业有限公司、福州兆科智能卡有限公司。
- 主要起草人: 王辉、张永刚、刘文莉、姜华、张昕、尚治宇、樊静静、董晶晶、张汉就、丁晓明、陈勇、丁轶、张群、刘颖、余海泉、黄显明、王宝鸿、李晓俊、李岳、常小争、王启勇、季泽、王晓雨、张大军、陈为明。
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